Avancerede mikroskoper til overfladekarakterisering

Beskrivelse

Med vores avancerede mikroskoper kan vi undersøge overflader helt ned på nano-niveau. Vi undersøger og analyserer overflader, strukturer, brudflader, partikler, urenheder mm., så du kan sikre kvaliteten og holdbarheden over for dine kunder.

Søgeord

#khu    #sem    #overfladekarakterisering    #karakterisering    #mikroskop    #nano    #skanning elektron mikroskop    #analyse    #fejlfinding    #havari    #overfladetopologi    #kvalitetssikring    #brudflade    #partikler    #overflade   

Detaljer