Med vores avancerede mikroskoper kan vi undersøge overflader helt ned på nano-niveau. Vi undersøger og analyserer overflader, strukturer, brudflader, partikler, urenheder mm., så du kan sikre kvaliteten og holdbarheden over for dine kunder.
#khu #sem #overfladekarakterisering #karakterisering #mikroskop #nano #skanning elektron mikroskop #analyse #fejlfinding #havari #overfladetopologi #kvalitetssikring #brudflade #partikler #overflade
Taget | 2020-01-21 |
Uploaded | for 3 år siden |
Opløsning | 6480 x 4320 px |
Størrelse | 16.26 MB |
Fotograf | Jon Nordahl |
Copyright | © FORCE Technology |
Mime Type | image/jpeg |